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  • 場發(fā)射掃描電子顯微鏡
    場發(fā)射掃描電子顯微鏡

    JSM-IT810場發(fā)射掃描電子顯微鏡 JSM-IT810系列FE-SEM結合多功能性和高空間分辨率,實現(xiàn)了自動化操作。內(nèi)置無需編碼的成像和EDS分析自動化功能,使工作流程更加流暢高效。 此外...

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  • 日本電子IT210 掃描電鏡
    日本電子IT210 掃描電鏡

    JSM-IT210 掃描電鏡是日本電子制造的最小巧的落地型掃描電子顯微鏡。5軸馬達驅動使得操作更安心和快速;而且因為裝有“Simple SEM”,只需選好微區(qū)就能自動觀察和分析。JSM-IT210 掃...

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  • 日本電子SEM
    日本電子SEM

    JSM-IT510 InTouchScope™ 日本電子SEM不僅是開展科研工作所不可少的工具,對于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場景中,用戶需要重復執(zhí)行相同的觀察操作,因此快速完成這...

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  • 掃描電鏡價格
    掃描電鏡價格

    JSM-IT210 InTouchScope™ 掃描電鏡價格不僅是開展科研工作所不可少的工具,對于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場景中,用戶需要重復執(zhí)行相同的觀察操作,因此快速完成這些...

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  • JSX-1000S 能量色散型X射線熒光分析儀
    JSX-1000S 能量色散型X射線熒光分析儀

    JSX-1000S 能量色散型X射線熒光分析儀采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析(FP法?檢量線法)、RoHS元素篩選功能等?!?利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更...

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  • 雙束加工觀察系統(tǒng)
    雙束加工觀察系統(tǒng)

    隨著先進材料構造的微細化和制造過程的復雜化,形貌觀察、元素分析和晶體分析等的評估技術也對分辨率和精度有了更高的要求。為了滿足這些需求,JEOL推出新一代雙束加工觀察系統(tǒng)JIB-4700F。

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  • JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
    JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)

    JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)配置了高性能的離子鏡筒(單束FIB裝置)。 被加速的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后,能對樣品表面進行SIM觀察 、研磨、及碳和鎢等沉積。還可以為TEM制備薄膜...

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  • JXA-iHP200F 場發(fā)射電子探針顯微分析儀
    JXA-iHP200F 場發(fā)射電子探針顯微分析儀

    JXA-iHP200F 場發(fā)射電子探針顯微分析儀在保持高局部微量元素分析性能的同時,追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進行觀察分析和操作,是更先進的一體化集成FE-EPMA。

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  • CP截面樣品制備裝置
    CP截面樣品制備裝置

    IB-19520CCP截面樣品制備裝置在加工過程中利用液氮冷卻,能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構造設計。在裝有液氮的情況下,也能將樣品快速冷卻、恢復到室溫,并且可以拆卸。...

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  • IB-19530CP截面樣品制備裝置
    IB-19530CP截面樣品制備裝置

    IB-19530CP截面樣品制備裝置為了滿足市場多樣化的需求,IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺,通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。

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  • 離子切片儀
    離子切片儀

    EM-09100IS 離子切片儀用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度(0°到6&...

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產(chǎn)品展示

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產(chǎn)品分類
  • 透射電子顯微鏡

  • 掃描電子顯微鏡

    場發(fā)射掃描電子顯微鏡 鎢燈絲掃描電子顯微鏡
  • 制樣設備

  • 電子探針顯微分析儀

  • 多束系統(tǒng)

  • X射線熒光分析儀

  • 核磁共振譜儀

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0512-63022732

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  • 日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析
    日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析

    日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度X射線CCD相機,實現(xiàn)了高的能量分辨率。 ...

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  • 場發(fā)射掃描電子顯微鏡
    場發(fā)射掃描電子顯微鏡

    JSM-IT810場發(fā)射掃描電子顯微鏡 JSM-IT810系列FE-SEM結合多功能性和高空間分辨率,實現(xiàn)了自動化操作。內(nèi)置無需編碼的成像和EDS分析自動化功能,使工作流程更加流暢高效。 此外...

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  • 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
    熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡

    JSM-IT710HR 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 清晰的可見性促進新發(fā)現(xiàn)!目前,除了納米級的分辨率和分析性能外,數(shù)據(jù)采集的處理能力也被認為是重要的。JSM-IT710HR是JEOL 以 “任何人都能輕...

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  • 日本電子IT210 掃描電鏡
    日本電子IT210 掃描電鏡

    JSM-IT210 掃描電鏡是日本電子制造的最小巧的落地型掃描電子顯微鏡。5軸馬達驅動使得操作更安心和快速;而且因為裝有“Simple SEM”,只需選好微區(qū)就能自動觀察和分析。JSM-IT210 掃...

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  • ROHS金屬成分分析儀
    ROHS金屬成分分析儀

    ROHS金屬成分分析儀(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度X射線CCD相機,實現(xiàn)了高的能量分辨率。 和EDS一樣可以并行檢...

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  • 日本電子SEM
    日本電子SEM

    JSM-IT510 InTouchScope™ 日本電子SEM不僅是開展科研工作所不可少的工具,對于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場景中,用戶需要重復執(zhí)行相同的觀察操作,因此快速完成這...

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賽非特科學儀器(蘇州)有限公司
關于賽非特賽非特公司主要是一家專門從事進口儀器設備銷售公司。主要服務于華東,華中,華南地區(qū)形成了一個覆蓋中國沿海地區(qū),并延伸至內(nèi)地的銷售網(wǎng)絡。我們服務項目包含儀器銷售,維修,安裝,儀器校準,保養(yǎng)等,是一加集進口,銷售,安裝,服務一體的進口儀器銷售公司,公司秉承“技術至上,服務進取”的經(jīng)營理念,堅持“客戶第一”的原則為廣大客戶提供優(yōu)質的服務。歡迎廣大客戶惠顧!賽非特公司主要合作品牌有:賽默飛世爾THERMOFISHER,安捷倫AGILENT,島津SHIMADZU,日本電子JEOL,牛津儀器Oxford,日本尼康NIKON等品牌產(chǎn)品。主要銷售產(chǎn)品為各式液相色譜,氣相色譜,光譜儀,質譜儀,光學顯微鏡,掃描電鏡,X光檢查機,x光熒光分析儀等相關儀器。賽非特客戶群為電子行業(yè),鋼鐵行業(yè),礦產(chǎn),生物,醫(yī)療,材料等各種領域。為客戶提供優(yōu)良的解決方案及優(yōu)秀的服務,用自身技術協(xié)助解決用戶的現(xiàn)實問題。歡迎廣大客戶來電指導,共同學習探討。
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技術文章
  • 掃描電鏡的能譜儀(EDS)成分分析原理與應用
    掃描電鏡的能譜儀(EDS)是一種基于電子束與樣品相互作用實現(xiàn)元素成分分析的重要工具,其原理與應用可歸納如下:原理EDS的核心原理是利用電子束轟擊樣品表面,激發(fā)樣品原子內(nèi)層電子躍遷,產(chǎn)生特征X射線。不同元素的原子核外電子能級結構不同,躍遷時釋放的X射線能量具有性(即特征能量),通過檢測這些X射線的能量分布,可實現(xiàn)元素定性分析;而X射線的強度與元素含量相關,結合標準樣品校正后,可進一步完成半定量分析。具體過程為:X射線光子進入檢測器后,在硅(Si)晶體中激發(fā)電子-空穴對,其數(shù)量與...
    2025-12-2
  • 掃描電子顯微鏡的日常維護與操作技巧:延長設備壽命并提升成像質量的實用指南
    掃描電子顯微鏡是現(xiàn)代科學研究中重要的高精度分析儀器,廣泛應用于材料科學、生物學、地質學和納米技術等領域。其高分辨率和強大的微觀結構分析能力為科研人員提供了重要的技術支持。然而,為了確保設備的穩(wěn)定性和成像質量,日常維護和正確的操作技巧至關重要。以下是一些延長設備壽命并提升成像質量的實用指南。一、日常維護的重要性掃描電子顯微鏡是一種復雜的高真空設備,其內(nèi)部包含許多精密的電子元件和光學部件。日常維護不僅可以延長設備的使用壽命,還能確保成像質量的穩(wěn)定性和可靠性。首先,保持實驗室環(huán)境的...
    2025-11-21
  • 離子切片儀:工作原理、核心技術與應用領域全解析
    離子切片儀(聚焦離子束系統(tǒng),F(xiàn)IB)作為納米級材料表征與加工的核心設備,通過高能離子束實現(xiàn)材料的精準切割與三維重構,在材料科學、電子器件及納米技術領域發(fā)揮關鍵作用。工作原理:離子切片儀的核心是利用離子槍發(fā)射高能離子束(如鎵離子),經(jīng)聚焦透鏡和掃描電極形成極細束流(直徑可至納米級),通過物理撞擊和化學反應逐層剝離材料表面原子,形成厚度僅幾納米至幾十納米的超薄切片。其能量密度與掃描速度的精確控制,確保切割效率與精度的平衡。例如,在8keV能量下,硅材料減薄速度可達40微米/小時,...
    2025-11-5
  • 探秘鎢燈絲掃描電子顯微鏡:原理與核心優(yōu)勢解析
    鎢燈絲掃描電子顯微鏡(TungstenFilamentScanningElectronMicroscope,簡稱SEM)憑借其獨特的原理和顯著的優(yōu)勢,始終扮演著重要的角色。它以一種近乎“古老”卻極為可靠的方式,為我們呈現(xiàn)了一個個微觀世界的精彩畫面。一、原理:電子束的奇妙之旅鎢燈絲掃描電子顯微鏡的原理可以概括為:通過電子束對樣品表面的逐點掃描,激發(fā)樣品產(chǎn)生信號,再將這些信號轉化為圖像。其核心部件是一根被加熱到高溫度的鎢燈絲。當電流通過鎢燈絲時,鎢原子被激發(fā),電子從燈絲表面逸出,...
    2025-10-22
  • 電子掃描電鏡的電子光學系統(tǒng)與信號探測原理深度解析
    一、電子光學系統(tǒng):聚焦與掃描的核心電子光學系統(tǒng)是掃描電鏡(SEM)的核心組成部分,負責產(chǎn)生、加速、聚焦及控制電子束在樣品表面的掃描。其核心部件包括:電子槍:作為電子源,通過熱發(fā)射或場發(fā)射產(chǎn)生自由電子。熱發(fā)射電子槍(如鎢燈絲)成本低但分辨率受限;場發(fā)射電子槍(如六硼化鑭或冷場發(fā)射)亮度高、束斑小,分辨率可達1nm以下,適用于高精度成像。電磁透鏡:通過電磁場對電子束進行聚焦和加速。兩級電磁透鏡將電子束會聚成直徑幾納米的束斑,確保高分辨率成像。掃描線圈:控制電子束在樣品表面進行光柵...
    2025-10-11
  • 掃描電鏡(SEM)原理和應用范圍
    掃描電鏡(SEM)作為現(xiàn)代材料分析的重要工具,其技術深度和應用廣度令人矚目。從基本原理出發(fā),SEM利用聚焦的電子束在樣品表面進行光柵狀掃描,通過檢測電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等信號,來觀察和分析樣品表面的形貌、結構和成分。在原理層面,SEM通過電子槍發(fā)射的電子束,在加速電壓的作用下,經(jīng)過電磁透鏡聚焦后,以極細的束斑在樣品表面進行掃描。這一過程中,電子束與樣品表面相互作用,激發(fā)出各種物理信號,其中二次電子對樣品表面形貌極為敏感,是SEM成像的主要信號來源。背散...
    2025-9-25
  • 解析掃描電子顯微鏡技術特性
    掃描電子顯微鏡(SEM)作為現(xiàn)代微觀分析領域的重要工具,憑借其獨特的優(yōu)勢,廣泛應用于材料科學、生物學、醫(yī)學、地質學等多個學科。它不僅能夠提供高分辨率的微觀圖像,還能進行成分分析和三維成像,為科學研究和工業(yè)應用提供了強大的支持。本文將深入解析它的技術特性,揭示其在微觀世界探索中的重要作用。高分辨率與深度感成像與光學顯微鏡相比,掃描電子顯微鏡(SEM)的分辨率要高得多。這是因為SEM使用電子束而非可見光來掃描樣品,電子波長遠小于可見光波長,從而能夠揭示更細微的結構。這種高分辨率使...
    2025-9-16
  • SEM日常維護與常見故障排查:延長設備壽命的最佳實踐
    日常維護核心要點環(huán)境控制SEM對溫濕度敏感,需保持實驗室溫度在18-25℃、濕度≤60%RH,避免高溫導致電子元件老化或高濕度引發(fā)電路腐蝕。設備應置于獨立防震臺,遠離門窗、通風口及高頻電源等干擾源,并配備UPS穩(wěn)壓電源防止電壓波動。每日開機前檢查冷卻水溫度,關機后15分鐘再關閉冷卻系統(tǒng),避免燈絲過熱損壞。真空系統(tǒng)維護真空系統(tǒng)是SEM穩(wěn)定運行的基礎。每日檢查機械泵、分子泵油位,確保油位在標線以上;機械泵油每6個月更換一次,分子泵軸承潤滑脂每年更換一次。每月用丙酮超聲清洗樣品室密...
    2025-9-5
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